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  • Detección de defectos superficiales mediante el procesamiento de interferogramas de holografía conoscópica [2002]

    Category:
    Tesis
    Authors:
    José María Enguita González
    Directors:
    Ignacio Álvarez García
    Departament:
    Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y Sistemas, Departamento de
    Date:
    01 of January of 2002