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Common-path two-wavelength interferometer with submicron precision for profile measurements in on-line applications [2010]
- Categoría:
- Artículos
- Autores:
- Jorge Marina Juárez , María Frade Rodríguez , Ignacio Álvarez García , José María Enguita González
- Fecha:
- 01 de Enero de 2010
- Es parte de:
- Optical Engineering