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Detección de defectos superficiales mediante el procesamiento de interferogramas de holografía conoscópica [2002]
- Categoría:
- Tesis
- Autores:
- José María Enguita González
- Directores:
- Ignacio Álvarez García
- Departamento:
- Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y Sistemas, Departamento de
- Fecha:
- 01 de Enero de 2002