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Técnicas avanzadas de perfilometría óptica in-situ basada en interferometría de desplazamiento lateral para medidas submicrométricas [2012]
- Categoría:
- Tesis
- Autores:
- María Frade Rodríguez
- Directores:
- Ignacio Álvarez García , José María Enguita González
- Departamento:
- Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y Sistemas, Departamento de
- Fecha:
- 26 de Octubre de 2012