Industrial and Intellectual Property

  • Reconstrucción de perfiles submicrométricos con Holografía Conoscópica para la medición de rugosidad [2015]

    Category:
    Tesis
    Authors:
    Jorge Marina Juárez
    Directors:
    José María Enguita González , Ignacio Álvarez García
    Departament:
    Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y Sistemas, Departamento de
    Date:
    01 of January of 2015