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  • Técnicas avanzadas de perfilometría óptica in-situ basada en interferometría de desplazamiento lateral para medidas submicrométricas [2012]

    Category:
    Tesis
    Authors:
    María Frade Rodríguez
    Directors:
    José María Enguita González , Ignacio Álvarez García
    Departament:
    Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y Sistemas, Departamento de
    Date:
    26 of October of 2012