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  • Asistencia en el desarrollo y aplicación de técnicas de análisis de datos inteligente para la detección temprana de defectos superficiales en procesos de estampado de chapa. la detección temprana de defectos superficiales en procesos de estampado de chapa (MLSURF) [FUO-162-20]

    Organismo: DESARROLLO DE SOLUCIONES INTEGRALES PLUS, S.L.

    Fecha de Inicio:
    26 de Mayo de 2020
    Fecha de Fin:
    26 de Enero de 2021
    Investigador responsable:
    • Ignacio Díaz Blanco
    • Abel Alberto Cuadrado Vega