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  • In-Situ Waviness Characterization of Metal Plates by a Lateral Shearing Interferometric Profilometer [2013]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    María Frade Rodríguez , José María Enguita González , Ignacio Álvarez García
    Fecha:
    01 de Enero de 2013
    Es parte de:
    Sensors