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  • Técnicas avanzadas de perfilometría óptica in-situ basada en interferometría de desplazamiento lateral para medidas submicrométricas [2012]

    Categoría:
    Tesis
    Autores:
    María Frade Rodríguez
    Directores:
    José María Enguita González , Ignacio Álvarez García
    Departamento:
    Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y Sistemas, Departamento de
    Fecha:
    26 de Octubre de 2012