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  • Common-path two-wavelength interferometer with submicron precision for profile measurements in on-line applications [2010]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    José María Enguita González , Ignacio Álvarez García , Jorge Marina Juárez , María Frade Rodríguez
    Fecha:
    01 de Enero de 2010
    Es parte de:
    Optical Engineering