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  • Thickness quality control [2006]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    José María Enguita González , César Fraga Bobis , Abel Alberto Cuadrado Vega , Y. Fernández , José Luis Rendueles Vigil , Guillermo Vecino
    Fecha:
    01 de Enero de 2006
    Es parte de:
    IEEE Industry Applications Magazine, 12(2)